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SPECTRA-QT 成像传感器量子效率测试光源
对于图像传感器行业而言，精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的，一个良好特性的传感器可以指定和调整输入滤波后光谱，增强修正终端产品的使用性能。
Spectra-QT成像传感器量子效率测试积分球均匀光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源，用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率，线性度，像素和模块。
测量参数：
量子效率
光谱响应度
线性度
特点：
超高的光照强度和超大的动态范围，能够满足各种传感器的量子效率测试需求
输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源，确保传感器测试结果的一致性。
光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院（NIST）
提供软件开发包，能够满足客户各种自定义测试流程开发需要
规格参数
光谱辐照度 | 光谱辐亮度 | |
波长范围: | 375 - 1100 nm | 375 - 1100 nm |
光谱带宽: | 5 nm to10 nm | 5 nm to10 nm |
波长准确度: | 0.6 nm | 0.6 nm |
开口孔径尺寸: | 29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mm | N/A |
400 nm最大光谱辐照度: | 12 μW/cm2 | 32 μW/cm2-sr |
600 nm最大光谱辐照度: | 21 μW/cm2 | 54 μW/cm2-sr |
800 nm最大光谱辐照度: | 5 μW/cm2 | 11 μW/cm2-sr |
550 nm稳定性: (UV-VIS 光源) | < 1.5% over 5 sec period | < 1.5% over 5 sec period |
750 nm稳定性: (VIS-NIR 光源) | < 0.05% over 5 sec period | < 0.05% over 5 sec period |
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CMOS传感器的光谱响应和量子效率测试解决方案+CMOS传感器+光谱响应和量子效率测试电子/电气 2019-11-19
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 上海倍蓝光电 | 2022-06-22 |
1年
是
有
根据交易双方商定，售后可提供免费培训
无
无
无
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