Dimension FastScan 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®分辨率的仪器性能前提下,大限度的成像速度。这项技术,解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
AFM使用效率和检测性能,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨率,不增加操作复杂性,不影响仪器使用成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,设置实验参数为扫描速度 > 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一技术重新定义了AFM仪器的操作和功能。。聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,数据存储,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,食品、化学品、护肤品的加工/包装,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,陶瓷工艺,薄膜性能表征,地质、能源、环境等领域的监测等各类科研和生产工作
仪器检测性能
· 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。
· 自动测量软件和高速扫描系统结合,大幅高了实验数据的可信度和可重复性。
测量分辨率
· Fastscan的力控制模式图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。
· 扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
· 低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
测试功能,适用于各类AFM样品
· 闭环控制的Icon和FastScan的扫描器降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到分辨的真实图像。
· Fast Scan可以对不同样品进行测量,扫描过程中从埃级到0.1μm的无失真扫描。
不论您选择Icon扫描器获得超低噪音和分辨率的图像,还是选择Dimension FastScan AFM的扫描器进行高速扫描检测,Dimension FastScan AFM系统都会帮助您将仪器的功能开发到大程度,实现其它单一模式的仪器所达不到的效果。
1年
是
有
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仪器保养
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