台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
电子产品
Na(11)-U(92)
1ppm-99.99%
小于135eV
0.1%
1.仪器外观选用独特的流线型设计,时尚雅致。 2.同时分析元素周期表中由硫(S)到铀(U)。 3.可以分析最多5层镀层,一次可分析元素多达24种。 4.无需复杂的样品预处理过程,无损测试。 5.检出限可达到2ppm。 6.分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm 。 7.采用美国原装、国际先进SDD探测器,能量分辨率高。 8.采用美国原装、国际先进的AMP,处理速度快,精度高,稳定可靠。 9.X光管采用正高压激发,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
我公司集中了国内最优秀的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员,依靠先进科学研究,总结多年的现场应用实践经验,结合中国的特色,开发生产出的Thick-900B 型X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点,广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
1. X-Y-Z样品平台移动装置 Thick-900B型X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置,具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。 2. X射线管激发系统 激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器:电压与电流采用软件自动数码控制及显示。最大功率50 W。电压0 -50 KV,电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管:采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际先进水平的X光管,指标达到国际先进水平。最大功率50W,管压5-50KV ;管流电流0-1000uA。 3.高分辨率的探测器系统 进口原装电制冷探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比。最佳分辨率能达到139eV±5ev。
Thick-900B型X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。
镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
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