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metrolux beam monitor 光束轮廓分析仪

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品牌

Metrolux

型号

beam monitor

产地

欧洲德国

应用领域

暂无
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固体激光器产品及设备

基于EN-ISO标准,Metrolux公司的激光光束轮廓分析仪可用于测量:光谱范围从10nm-1100nm,光斑直径从1μm - 100 mm,的激光的强度分布分析。

    

  •    节约调整光学器件和谐振器时间

  •     过程处理的监控界面友好

  •     在线分析和自动文档编制

  •     数据被可靠的连接和传输到数据库

  •     按照EN-ISO标准可扩展的Beamlux II软件用于光束分析

  •     用于触发和同步操作的单脉冲分辨率

  •     测量过程的高均匀性和长稳定性

 

    具有多种适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束分析的软件工具,通过选择激光同步附件,可实现分析仪和脉冲激光的同步工作,以实现单个脉冲的光斑轮廓分析。

   探测器外壳采用特殊表面细化处理、光学部件采用光学增透膜把杂散光减小到最小。


      VIS/NIR激光光束轮廓分析仪 

 

    基于CCD相机的激光光束轮廓分析仪通过优化后适合于低输出功率的连续和脉冲激光器准直光束分析,大部分VIS/NIR波长范围的激光,可使用此系统进行分析,例如Nd:YAG或者半导体激光器通常使用此系统分析。

    光束轮廓分析仪主要包含Beamlux II软件、标准摄像头及附件如中性密度滤光片组合,同时分析仪的安装和测量分析是非常便捷、高效的。使用相应的配件,分析仪也可用于高功率激光束和焦点直径小于10μm的激光测量。


交货包含:rail、4.5米电缆、PCI卡、SW/驱动程序光盘、中性密度滤光片组 。

可选配件:PCMCIA、扩展卡、触发电缆、用于高功率的衰减器、ML8010电机控制器、ML1630激光同步装置

典型测量:光斑大小、发散角、近场、远场、光束稳定性、功率、焦散、均匀性   


 UV激光光束轮廓分析仪     此系列分析仪非常适合用于准分子激光器和Nd:YAG激光器(3倍、4倍、5倍频)输出激光光束的轮廓分析。

    分析仪主要包括紫外灵敏CCD相机、Beamlux II 高级版分析软件。根据系统的有效探测面积不同,10μm -100mm的激光光斑都可以分析。

 

交货包含:rail、4.5米电缆、PCI卡、SW/驱动程序光盘 。

可选配件:PCMCIA、扩展卡、触发电缆、用于高功率的衰减器、ML8010电机控制器、ML1630激光同步装置

典型测量:光斑大小、发散角、近场、远场、光束稳定性、功率、焦散、均匀性

实际的光谱范围,取决于CCD探测器前端的转换器。


 


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