仪器对比
关注
XPE 分析天平卓越的性能
◆ XPE 分析天平提供卓越的分析称量性能，并满足至高的安全性、效率且易于合规。
XPE 分析天平重复性低，因此提供更小的称量值。
◆ 质量管理特征，例如创新的状态指示灯 (StatusLight) 和获得专利的静电检测 (StaticDetect)
技术，可免 除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果。
◆ 凭借各种选件和多个连接选项，XPE 天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进
行各种称量。
◆ 瑞士设计与制造，卓越的品质值得您信赖。
相关产品：
XPE 分析天平 全自动电位滴定仪 密度计 折光率仪和糖度计 便携式折光率仪
梅特勒-托利多2015新款新超越系列XPE分析天平信息由广州高测仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于梅特勒-托利多2015新款新超越系列XPE分析天平报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
相关产品
