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布鲁克Senterra共聚焦拉曼显微光谱仪
SENTERRA共聚焦拉曼显微光谱仪，集成了众多革新性的*技术，如*校正、荧光自动扣除及共聚焦纵深剖析功能。*重要的创新技术就是连续实时自动校正，它完全免去了需要用外部标准物质进行日常校准工作的繁琐，保证了可靠的、高重复性的测量。
布鲁克光谱仪器公司多年致力于拉曼光谱仪的创新与*技术的开发，引领了显微拉曼光谱仪的二次革命。SENTERRA便是应运而生的明星产品之一，它是一款专门为分析和研究应用领域而设计的具有超高性能的共聚焦拉曼显微光谱仪。
SENTERRA拉曼显微光谱仪包含诸多功能，且高度集成，是您实验室的*佳选择。
高度集成设计
大部分商业拉曼显微光谱仪的拉曼部分与显微镜是分开的，所以在准直及维护这些设备时就需要耗费大量的时间。而SENTERRA将包含多个激光器的拉曼光谱仪集成到共聚焦光学显微镜上，拉曼部分位于底座与显微镜双目镜之间，这种集成化的设计使得光路更短，保证了系统的高稳定性和高灵敏度。
内置多个激光器
高质量摄像头，图像可与光谱同时保存
内置多个光栅
一级*防护罩
具有纵深剖析功能的机械化全自动X、Y、Z轴样品台
是在需要高精度地确认谱带位移的研究领域，还是在常规的用于物质鉴定的QA/QC实验室，仪器的稳定性都是一个至关重要的问题。SENTERRA的Sure_Cal自动校正*技术赋予了其*的波长精度和准确度。在测量每个拉曼光谱和记录激光激发波长的同时，内置的氖灯发射波长也被同时记录。众所周知，氖灯的发射波长其稳定，因此，通过读取氖灯发射波长在当前仪器状态下出现的变化，谱仪自身可对激光激发波长和拉曼光谱进行实时校正。SENTERRA的Sure_Cal连续自动校正技术，让您免去了用外部标准品校正或其他人为校正和干预的繁琐步骤，每次采集的拉曼谱图都会被自动校准，且波长的准确度及精度优于2.5px-1。
SENTERRA集成了革命性的ARF（荧光自动扣除）*技术，从而解决了很多样品的荧光干扰问题。长期以来，荧光干扰在很大程度上限制了拉曼光谱仪的应用领域。SENTERRA拉曼光谱仪的出现，使样品的荧光干扰问题得以彻底解决。即使是要求苛刻的样品，依然能得到高质量的拉曼光谱图。
FlexFocus灵活的共聚焦显微镜
传统的圆孔光阑共聚焦和狭缝光阑共聚焦各有其优缺点，而SENTERRA则创新地将二者结合为FlexFocusTM组合光阑。
该组合光阑中含有的一系列圆孔和狭缝都可被用于共焦孔径和摄谱入射孔径。圆孔共焦模式的优点是分辨率高，但光通量比狭缝光阑小。如果能够随时进行高共焦模式和高光通量模式的切换，将*大程度地满足用户的需要。FlexFocusTM同时拥有用于高共焦模式的圆孔光阑和用于高光通量模式的狭缝光阑，根据需要可随时在软件中灵活切换，从根本上消除了传统共焦方法的缺点。（英文原版写的好冗长，同样的意思重复了多次）
扩展性能
为了*大程度地提高布鲁克拉曼光谱仪的分析能力，我们还提供种类齐全的拉曼配件，如全自动Mapping扫描台、冷/热台、偏振附件和解偏附件等。另外，通过使用机械化的超高精度Z轴马达驱动，仪器可实现自动化的纵向剖面分析。e也可在倒置显微镜上用作生物标本的分析。
*的光学显微镜
SENTERRA以Olympus BX系列光学显微镜为基底，因此，，它配有如科勒明场照明、偏振光、Nomarski微分干涉对比（DIC）、暗场照明以及荧光照明等用于增强可视化效果和对比度的工具。标准的三目镜观察系统使您可以在计算机显示器或双筒目镜里清晰地观察到你的样品。Koehler照明中的孔径光阑提供了*简单直接的对比度增强方法。可见偏振器可以用于分辨双折射率的样品。暗场照明、相位对照和DIC也是观察和表征样品的重要工具。对于自发荧光或事先特别标记的样品，荧光照明与观察是一种非常灵敏的技术。
应用领域
SENTERRA非常适合各种要求苛刻的研究领域和分析应用，包括
Pharmaceuticals (Polymorphism)
药物分析(多晶型)
Material Sciences & Nanotechnology
材料科学&纳米技术
Forensics
物证鉴定
Art Conservation & Restoration
艺术品保护和修复
Mineralogy & Gemology
矿物研究和宝石鉴定
Polymers & Plastic
聚合物和高分子研究
Life Science
生命科学
Photovoltaics
光伏材料
不同激光器之间的切换非常简单，您在软件中选择合适的激光器，SENTERRA便会自动将相应的激光器和摄谱仪调用、就位。
Sure_Cal的实时校准功能
一体化、高度集成、共聚焦设计
激光器一级*防护罩
多激发波长选择：830nm, 785nm, 633nm, 532nm及488nm
可实现与1064nm的FT-Raman联用
FlexFocusTM共聚焦纵深剖析功能
高空间分辨率和高光谱分辨率
使用NIST标准对仪器进行自动响应校正
SERDS荧光自动扣除技术
开放式光路设计，可集成倒置显微镜、原子力显微镜（AFM这个我们还提供吗？应该没有了吧～）和Z-轴悬挂式样品台等应用
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