简单介绍
产品描述
用于alpha能谱测量的ULTRA和ULTRA-AS探测器采用了表面钝化和离子注入工艺(即PIPS探测器),该工艺的探测器有诸多优点:接触极更薄,更坚固;低噪声,对Alpha能谱分辨率好;使用边缘钝化技术,可以使样品离探测器入射窗小到1mm。而一般面垒型探测器最小只能达到2.5mm。所以该类型探测器的效率要更高;常温使用,探测器窗可擦拭。
Ultra-AS针对Ultra的区别或改进是采用了进一步低本底的材料,以专适于在ORTEC Alpha Suite谱仪。
ULTRA-CAM系列则是针对气溶胶连续监测设计,探测器具有特殊密闭和抗潮性能。
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅探测器。
ULTRA与ULTRA-AS系列离子注入硅探测器
A系列局部耗尽金硅面垒探测器
B系列全耗尽金硅面垒探测器
C系列环形局部耗尽金硅面垒探测器
D系列平面全耗尽金硅面垒探测器
F系列局部耗尽重离子金硅面垒探测器
L系列锂漂移硅(室温)探测器
R系列加强型局部耗尽硅探测器
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