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温度冲击应力筛选试验箱对不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)
温度冲击应力筛选试验箱特点：
1、可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；
2、可执行慢速温度循环[3～5℃/min]符合IEC60068-2、应力筛选ESS[5～15℃/min]符合JESD22、快速温变[15～30℃/min](40℃/min)、冷热冲击四种不同设备的温变试验Laboratory Class；
3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求；4、待测品自动负载调整免手动设定预冷预热，可依据待测品负载量系统自动调整。5、精灵快捷键 人性化快速进入选单高低温常温冲击 ；6、超低除霜次数 高低温常温冲击(3 Zoon)100Cycle免除霜，缩短试验时间与能耗。7、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；9、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；10、感测器放置测试区出（回）风口赛思设计符合实验有效性；11、机台多处报警监测，配置无线远程报警功能；
温度冲击应力筛选试验箱测试规范：
标准：满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。
温度冲击应力筛选试验箱技术规格：
型号 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
内箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
预冷、预热范围 | -00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃ | |||
应力冲击范围 | -10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃ | |||
时间设定范围 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
温度均匀度 | ±3.00℃以内（under℃3.00℃） | |||
温度应力变化范围（最小/分钟） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
冲击试验温度 | -65℃～+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃) | |||
三箱冲击温度范围 | -55℃～+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃) | |||
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