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单光束
CMOS
紫外可见近红外(190-2600nm)
自动波长
190-1100 nm
4 nm
±0.5 nm
0.05 % T
仪器介绍：
德国制造，品质一流
所有仪器在交付时都将随附已经 DAkkS* 校准过的标准物质
几乎可为所有应用提供石英玻璃、光学玻璃、塑料等不同材质的比色皿
紫外/可见分光光度计EMC-NANO-UV：
样品体积为 0.2~2.0μl的新型NANO比色皿 +10x10 mm比色皿托架
简单易用
水平光路 - 无能量损耗！
紫外/可见分光光度计EMC-NANO-UV具体参数：
波长范围：190-1100 nm
光谱带宽：4 nm
光学系统：单光束, grating 1200 lines/mm
波长精度：±0.5 nm
波长重复性：0.3 nm
测光精度：≤±0.5 % T or ±0.004A@1A
光度范围：0-200 % T, -0.3 - 3A, 0-9999 Conc.
扫描速度：Hi, MED, LOW – MAX: 3000nm/min
杂散光：0.05 % T@220, 340 nm
稳定性：±0.002A/h@500 nm
基线平直度：±0.002A (200-1000 nm)
噪音：0.0005A@500 nm
探测器：光电二极管
显示：LCD 320*240
光源：卤素灯和氘灯
电源：AC 110/220V 50/60 Hz
尺寸(LxWxH) ：490 x 370 x 220 mm
重量：14kg
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