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Quadra 5 X光检测系统
X光检测灵活解决方案
Quadra™ 5 搭配行业领先的核心技术，在X光2D和3D检测应用方面拥有更高的性能，且使用更容易。在标配功率10W范围内都可以达到0.35μm的分辨率。系统可选配升级到20W的功率。这使得Quadra 5成为PCB和半导体封装行业X光检测的首选。
专门为电子领域应用设计
优势:
· 亚微米分辨率、更高的性能和可靠性，助您生产出顶级品质的产品
· 配备DAGE专利的封闭穿透式X光管，无需日常的灯丝更换，可以不间断的使用，实现更大的产出能力
· 一系列的系统选配项目，可以实现灵活的系统定制，以满足不同应用的需求。
特点:
- 满功率时仍具有最好的分辨率
- 主动式X-ray图像稳定(Aχis)
- 标配自动检测功能
· QFN, BGA, 焊盘(Pad), 线弯曲(Wire sweep)
- 可选配置μCT及X-Plane®以实现虚拟切片，而无需剪切样品。
选配项
- 高功率升级(10W升级至20W) - X-Plane® 3D检测分析系统
- 3D可视化(应用于X-plane) - μCT (3D检测分析系统)
- 单摇杆或双摇杆 - 过滤托盘
- 加热平台 - 基于模板的分析/CAD编辑
- 碳纤维样品托盘 - 双显示器
Quadra NT™ X光管
X光管类型：封闭穿透式
分辨率：0.35 μm(10W以内)，0.95 μm(20W以内)
最大功率：10W (可选升级到20W)
电压范围：30-160kV
Aspire FP™平板探测器
像素数：300万像素
帧速率：25 fps
像素间距：50 μm
数字图像处理：16-bit
检测
倾斜角度视图：70°
主动减震：AxiS - 主动式X-ray 图像稳定器
显示分辨率(每英寸像素数)：94像素/英寸
最大检测区域：20”×17.5”
最大样品尺寸：29”×22.8”
最大几何放大倍数：2,500×
最大总放大倍数：45,000×
最大样品重量(标准推盘)：5kg(11 lbs)
显示器：24" WUXGA单显示器(分辨率1920×1200)，固定在可完全灵活调整的支架上
系统
设备尺寸：1570 W×1500 D×1900 H mm
设备重量：1950 kg (4300 lbs)
电源：单相200-230 VAC，16A
典型功耗：1KW
压缩空气：4-6 bar(干燥洁净)，用于防振
环境温度：10-30°C
环境湿度：< 85% (无结露)
操作方式：鼠标操作
操作系统：Windows 10(64位)
新型Quadra™ 5是专门为电子领域应用设计的最灵活的X光检测解决方案
产品特性：
· 分辨率< 0.1μm (100nm)（X光管功率10W以内都可以达到）
· Aspire FP™ 300万像素@ 25fps平板探测器，像素点间距 50μm
· 最大放大倍数高达45,000倍
· 24" 全高清WUXGA LED显示器，分辨率1920 x 1200
· 最大70°斜角视图，保持放大倍数不变
· 主动式X光图像稳定系统(AχiS)
· 标配自动检测功能，包括QFN，BGA，焊盘(Pad)，线弯曲(Wire sweep)
· 可选配μCT及X-Plane®实现可视化切片，而无需切割样品
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用二维X光检查材料和厚度识别电子/电气 2021-05-08
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X光无损检测及超声波无损检测应用手册
半导体 2021-05-08
1年
否
无
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