CAMECA 纳米离子探针质谱仪NanoSIMS 50L
报价 ¥3000万 - 4000万
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磁质谱
2.1.2.4. 一次束流离子束斑直径 ≥0.5µm时，离子流密度≥100 mA/cm2
>238
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应用于高空间分辨率下同位素和痕量元素分析的SIMS
NanoSIMS 50L是一款独特的离子探针，在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了一次离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及具有多接收功能的原始扇形磁质量分析仪。
NanoSIMS 50L能同时提供关键性能，而使用任何其他已知的仪器或技术只能部分提供这些性能：
高分析空间分辨率（低至50纳米）
高灵敏度（元素成像中的ppm）
高质量分辨率（M/dM）
并行采集七种不同质荷比离子 快速采集（直流模式，不发生脉冲）
能够分析电绝缘样品
经改良，现在可实现千分之十几的同位素比值再现性。
应用领域:
微生物学： NanoSIMS 50L为环境中混合微生物群落研究中的单细胞系统发育特征（使用FISH或El-FISH）和代谢功能（使用稳定同位素标记）的结合开辟了新的可能性。
细胞生物学： NanoSIMS 50L具备50纳米分辨率和测定同位素比值功能，可实现对细胞内带有稳定同位素标记的分子的积累和传输的测量。
地质学和空间科学： NanoSIMS 50L可以对行星际尘埃颗粒、陨石和矿物部分的亚微米区域、晶粒或包裹体进行精确的同位素和元素测量。该仪器在多个法拉第杯配置下工作，并具有几微米的光斑尺寸，可以提供同位素比值测量，具有极高精确度以及低至千分之十几的的外部再现性。
材料研究： 凭借高质量分辨率下的高灵敏度（无质量干扰），即使在电绝缘材料中，NanoSIMS 50L也可以在50纳米SIMS横向分辨率下进行痕量元素（掺杂物）成像和定量分析。除稀有气体以外的所有元素（从氢到钚）均可测量。
NanoSIMS 最初由法国巴黎第十一大学的G. Slodzian教授设计。
1年
否
无
无
无
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