MAXXI 6
牛津仪器镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的一致性和高品质。
高分辨率的硅漂移器(SDD)
开槽式超大样品舱设计
8个准直器
USB接口与计算机连接
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。
镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
亮点
采用微聚焦X射线光管,实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低
采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)
多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率
开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品
“USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件
德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性
通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准
![](http://www.oxford-instruments.cn/OxfordInstruments/media/industrial-analysis/MAXXI6/%e9%95%80%e5%b1%82%e6%b5%8b%e5%8e%9a%e4%bb%aamaxxi6-3.png)
性能及符合性
开槽式大样品台
可编程的XY样品台
样品腔体积:500 × 450 × 170 mm
创新的防撞设计
可编程的样品台
预定位激光技术
最大化的样品台行程范围及速度
自动测量
![](http://www.oxford-instruments.cn/OxfordInstruments/media/industrial-analysis/MAXXI6/%e9%95%80%e5%b1%82%e6%b5%8b%e5%8e%9a%e4%bb%aamaxxi6-%e8%bd%af%e4%bb%b6.png)
软件及校准
基于WindowsTM 7操作系统,直观的软件MaxxControl
选择经验校准以实现最大准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准
成分分析:可自由选择元素;厚度测量:可自定义镀层结构
对RoHS和贵金属进行工厂预装校准(可选)