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任何物质都会和X射线产生相互作用,产生荧光,衍射,散射,发热,变色等各种物理现象,这就组成了各种检测仪器的背景,除了所期望的信号之外,使用不同X射线探测器都一定会不可避免的接收到各种不需要的背景，这些背景必然对实验检测产生不可避免的干扰，尤其是在精细研究的情况下。因此，检测人员自然而然的提出了无背景衍射样品片的需求。
X射线衍射无背景片是基于布拉格定律的基础，精心挑选少数适用材料，通过巧妙的理论计算，在长期试验验证了其理论正确性的基础上，经过繁复且耐心的加工而获得的，在X射线衍射仪全谱扫描范围内均无明显衍射和漫散射峰的片状材料，所获得样品片均非常适用于微量样品衍射分析，尤其是极弱衍射信号的材料理论研究和开发工作。
所有无背景样品片，除经过大功率转靶X射线衍射仪(40kV,100mA)逐片检验以外，还经过国际上进口仪器的复检。
除了最基础的通用型以外，我们还开发出了高温用途的，甚至于透红外材料的无背景样品片。
颜色/形状和性能分为如下几种：
1 | 颜色 | 透明和黑色不透明 |
2 | 形状 | 圆/方/片/块/表面开槽/异型定制 |
3 | 表面处理 | 抛光/毛面/简单处理。 毛面非常适用于少量粉末样品的涂抹操作。 |
4 | 导电性 | 相当于半导体导电能力/完全绝缘 |
适用于半导体材料研究，有机成膜，机械镀膜等。 | ||
5 | 光学性能 | 不透光，透可见光，透红外线等多种选择。 |
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无背景样品片信息由北京兴东达泰科技发展有限公司为您提供，如您想了解更多关于无背景样品片报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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