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技术参数
1、X射线发生器功率为3KW
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪半径300mm
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、最小步径0.0001度
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）
7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）
8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)
7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包
8、视频观察系统
9、丰富的各种附件
主要特点
1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。
2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。
3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6.小角散射与纳米材料粒径分布
7. 微区样品的分析
仪器介绍
智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。
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