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InGaAs盖革模式雪崩光电二极管0.9-1.7um( 非制冷型以及内置TEC制冷型)

报价 ¥1万 - 5万

品牌

筱晓光子

型号

IGA-APD-GM104-R-TEC

产地

美洲加拿大

应用领域

暂无
一,InGaAs盖革模式雪崩光电二极管(内置TEC制冷型) 0.9-1.7um

InGaAs 雪崩光电二极管(APD)是短波近红外单 光子检测的专用器件,可满足量子通信、弱光探测等领 域对高效率低噪声单光子检测的技术需求,实现对0.9 ~ 1.7μm波长的单光子探测。

InGaAs盖革模式雪崩光电二极管(内置TEC制冷型) 0.9-1.7um ,InGaAs盖革模式雪崩光电二极管(内置TEC制冷型) 0.9-1.7um
产品特点

● 光谱响应范围0.9~1.7μm 

● 高探测效率、低暗计数率 

● 6 pin TO8

产品应用

● 弱光探测 

● 量子保密通信 

● 生物医疗

技术参数

线性模式参数

产品型号

IGA-APD-GM104-TEC

参数

符号

单位

测试条件

最小

典型

最大

反向击穿电压

VBR

V

22℃±3℃ ,ID =10μA

60

80

90

响应度

Re

A/W

22℃±3℃,λ =1550nm ,M =1

0.8

0.85


暗电流

ID

nA

22℃±3℃,M =10


0.1

0.3

电容

C

pF

22℃±3℃ ,M =10, f=1MHz



0.25

击穿电压温度系数

η

V/K

-40℃ ~80℃,ID =10μA



0.15


盖革模式参数

参数

单位

测试条件

最小

典型

最大

单光子探测效率 PDE

%

-45℃ ,λ =1550nm ,0.1ph/pulse,泊松分布单光子源

20



暗计数率 DCR

 

kHz

-45℃,1ns门宽,2MHz门控重频,1MHz光重频,PDE=20%



 

20*

后脉冲概率 APP


-45℃,1ns门宽,2MHz门控重频,1MHz光重频,PDE=20%



1× 10-3

时间抖动Tj

ps

-45℃,1ns 门宽,2MHz门控重频,PDE=20%



100

* 可提供不同等级规格产品


室温IV曲线

BPD2.png

DCR-PDE(-45℃, fg=2MHz)

BPD3.png

温度系数

BPD4.png

电容电压

BPD5.png


封装外形、尺寸及引脚定义 TO8 (尾纤封装)




二,铟镓砷InGaAs盖革模式雪崩光电二极管 (非制冷型) 0.9-1.7μm

总览

InGaAs 雪崩光电二极管(APD)是短波近红外单 光子检测的专用器件,可满足量子通信、弱光探测等领 域对高效率低噪声单光子检测的技术需求,实现对0.9 ~ 1.7μm波长的单光子探测。

铟镓砷InGaAs盖革模式雪崩光电二极管 (非制冷型) 0.9-1.7μm,铟镓砷InGaAs盖革模式雪崩光电二极管 (非制冷型) 0.9-1.7μm

产品特点

● 光谱响应范围0.9~1.7μm 

● 高探测效率、低暗计数率 

● 3 pin TO46

产品应用

● 弱光探测

● 量子保密通信 

● 生物医疗

技术参数

线性模式参数

产品型号

IGA-APD-GM104-R

参数

符号

单位

测试条件

最小

典型

最大

反向击穿电压

VBR

V

22±3 ID =10μA

60

80

90

响应度

Re

A/W

22±3 ,λ =1550nm M =1

0.8

0.85


暗电流

ID

nA

22±3 M =10


0.1

0.3

电容

C

pF

22±3 M =10 f=1MHz



0.25

击穿电压温度 系数

η

V/K

-40 ~80℃,ID =10μA



0.15


盖革模式参数


参数

单位

测试条件

最小

典型

最大

单光子探测效 率PDE

%

-45 λ =1550nm 0.1ph/pulse

泊松分布单光子源

20



暗计数率DCR

kHz

-45 1ns门宽, 2MHz门控重频,1MHz光重频,PDE=20%



 

20*

后脉冲概率 APP


-45℃ ,1ns门宽, 2MHz门控重频,1MHz光重频,PDE=20%



 

1× 10-3

时间抖动Tj

ps

-45℃ ,1ns 门  ,2MHz门控重频,PDE=20%



100

* 可提供不同等级规格产品



TO46 (尾纤封装)

APD1.png





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1年

我司实验室可进行培训

1年内

免费更换零件 调试等

约定时间内进行维修调试

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