仪器对比
关注
国产
样本下载
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。
仪器规格：
● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
● 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
● 仪器重量：50kg
● 供电电源：AC220V/ 50Hz
● 最大功率：330W
● 工作温度：15-30℃
● 相对湿度：≤85%，不结露
产品特点：
1.1全自动三维样品台
1.2 X射线向下照射式，激光对焦
1.3小光斑设计1.4测试时间灵活性调节
1.4测试时间灵活性调节
1.5多规格样品仓
1.6 X-Ray探测器
禾苗镀层测厚仪器信息由深圳市禾苗分析仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于禾苗镀层测厚仪器报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
相关产品
