仪器对比
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仪器介绍
近平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜/空气间隙等物质上，其上下表面的反射光干涉而形成的干涉条纹。薄膜/空气间隙厚度相同的地方形成同条干涉条纹，故称等厚干涉。本实验除了研究典型的牛顿环和楔形平板干涉以外，还研究了一些牛顿环装置的变种，如正交柱面镜等形成的椭圆，双曲等干涉条纹现象。
可开设实验列表
观测牛顿环干涉现象
测量平凸透镜曲率半径
观测劈尖干涉现象
用劈尖干涉测量细丝直径
观测柱面镜双曲线干涉现象
通过柱面镜椭圆曲线测量柱面镜曲率半径
规格参数
SGH-2等厚干涉综合实验信息由天津港东科技股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于SGH-2等厚干涉综合实验报价、型号、参数等信息，港东科技客服电话：400-805-0902，欢迎来电或留言咨询。
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