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SR750 超高分辨率光谱仪
结合创新型的光学器件设计，SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750 可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供最佳的系统解决方案。
SR750 超高分辨率光谱仪主要特点：
? 分辨率最高可达0.02nm
? 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测
? 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息，便于以后光栅升级
? 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求
? 多样化的附件选择
? 支持单点探测器，波长最大可达12μm
? 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能
SR750 超高分辨率光谱仪技术参数指标：
SR750 超高分辨率光谱仪配置选项：
附件选项：
光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚
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