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产品介绍：
NX9000可以自动重复进行FIB制备截面和扫描电镜观察，能够获得一系列的截面图像，从而实现特定显微切片的三维结构分析。NX9000中的SEM镜筒和FIB镜筒呈正交结构，而不是常见的对角构造。这种形式是进行三维结构分析最理想的结构，能够稳定收集准确反映样品的真实结构的图像。
主要特点：
1. 高分辨SEM冷场发射电子枪1.6nm@15kV，高衬度成像
2. SEM和FIB镜筒垂直，能进行更真实的三维结构分析
3. 可实现观察加工过程
4. 全自动TEM样品制备
5. 高精度加工
6. 可选Ar和Xe离子源
应用领域：
1. 新材料
2. 纳米材料
3. 电子元器件研发
4. 生物结构研究
技术参数：
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日立L型FIB-SEM-Ar三束系统NX9000信息由天美仪拓实验室设备（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于日立L型FIB-SEM-Ar三束系统NX9000报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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