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PROTO LXRD高速测量立式X-射线衍射仪，实验室高速测量，实验室残余应力和奥氏体残余应力测量系统。
LXRD重型连续不断的操作设计是实验室研究人员和工厂的工人新星。快速、准确、可靠,LXRD提供业内最高的投资回报率，超高的测量速度使得测量可以在1min内进行完成。仪器工艺设计以便于检修的功能让你年复一年地启动和运行，增长仪器的使用寿命。LXRD适用于标准或超大附件容量的样品测量。灵活的工具选项或选配和残余应力的映射,充分证明LXRD在残余应力和残留奥氏体测量系统的领导者的地位。
安全与保护
工艺设计同时满足实验人员安全与仪器的长期保护。我们的仪器符合ANSI N43.2规定，能提供完整的辐射防护。一个信息安全联锁装置小组直接与流量传感器,x光管、高压电源和门联锁提供热能和运行状态诊断。x射线和快门灯塔方便通知操作员x射线束的状态。
典型的最先进的x射线探测器
PROTO专利敏感的闪烁探测器(PSSD)提供无与伦比的速度、稳定性和2θ范围内。与其他x射线探测器不同,PROTO专利敏感的闪烁探测器(PSSD)不会因接触X射线而恶化。不需要昂贵的替代品。探测器可以快速定位于欧米ω或改进的侧倾几何角。两个探测器精确剪切应力的决心。提供标准和扩展2θ的范围。
精确性
每一个lxrd系统的核心是功能强大且易于使用的PROTO XRDWin 2.0软件。全面的Windows®的数据收集和应力分析基于:线性和椭圆回归,Dolle-Hauk,三轴的方法。先进的峰值拟合函数:抛物线,高斯,皮尔森VII,柯西,质心,重心中心,弦线中心点。图形显示的峰值强度、宽度、应用,sin2ψ情节信息提供了容易阅读的结果。软件工具XEC测定,压力原理,材料去除,深度渗透,残留奥氏体,杆的数据,和单晶应力数据包。
产品特点
先进功能：
1.余应力的成像技术是适用于所有LXRD 模型，提供零件残余应力状态的全面图。作为的残余应力成像技术的开创者，PROTO在该领域具有领导者的地位。
2.自动化的奥氏体残余应力符合 ASTM E975 AR分析标准，峰值4% 。R值计算器，最低检出限浓度1%。应力和奥氏体之间不需要转换。具有可选的氮化层分析
3.X-射线 弹性常数测定(XEC)完全自动化的残余应力材料测量按ASTM E1426校准
4.极图创建使用LXRD旋转台可用于择优取向分析,单晶取向、单晶应力测量。
使用方便，操作简单
1、高性能的测角仪保持在低维护的ASTM e915精度
2、复杂的几何图形可通过手动对焦指针使测角仪精确定位。
3、自动化指针方便自动聚焦, 以及大残余应力图的快速聚焦。
4、x射线光速孔径：0.2，0.5，1.0，2.0，3.0，4.0mm；矩形0.5x3，1 x3，0.5 x5，1 x5 ，2 x5 mm。
5、高应力标准、零压力粉末， RA标准确保了精确的系统结果。
6。集成的综合冷却系统使LXRD成为方便独立的仪器。
技术参数
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