Lyncee Tec DHM®数字全息显微镜

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品牌

Lyncee Tec

型号

Lyncee Tec DHM

产地

欧洲瑞士

应用领域

暂无

Lyncee Tec DHM®数字全息显微镜

Characterize your samples like you couldn’t before

数字全息显微镜DHM®是全息技术应用在显微领域的一项专利技术。DHM® 相比其他显微术的独特优势在于它无须扫描或接触样品,既能实现样品静态和动态三维表征,为材料学和生命科学领域内的诸多应用提供各种解决方案。

DHM®为产品研发和工业应用提供的全套解决方案包括了硬件设备、专用数据采集和分析软件、以及多种可项配件。

DHM®有两种针对不同应用的产品:能够穿过透明样品的透射式DHM®和能够测量经过样品表面反射波前的反射式DHM®。Lyncée Tec 提供标准型DHM,同时也能为满足客户特殊需求提供定制服务和OEM系统,例如说光源的选择是可以按照客户需求进行定制的。如果您有特殊需求或者应用,欢迎随时联系我们,我们将为您提供量身定制的技术咨询和解决方案。

反射式数字全息显微镜DHM®

反射式DHM® 测量的是经过样品表面反射的波前信息。

DHM® 远远不止是一台标准的光学轮廓仪,它能在实时动态下测量从几纳米到几百微米垂直范围内的形貌,并且始终保持亚纳米的垂直精度。

应用范围:

  • 三维形貌表征

  • 表面粗糙度

  • 缺陷检测

  • 薄膜形貌

  • MEMS振动测量分析


透射式数字全息显微镜DHM®

透射式DHM® 测量的是光束穿过透明样品而产生的光程差。

在测量微光学元件、微流道器件以及透明样品中的缺陷和颗粒等应用中,透射式DHM® 往往是 选择。

DHM®的使用先锋者们早已经在各种开创性的学术论文中演示了如何解读生物样品的全息图像。透射式DHM®是细胞样品成像的 选择。

 

 

DHM®拥有 的优势

适合各种研发和工业需求

  • 超短时间读取大量图片

  • 高速测试大批量样品

  • 适应各种实验需求,可灵活定制针对不同产品的工业质量监控

  • 更进一步,连接研发和自动化生产

    全新的方式和角度观测样品

  • 引导新的研究和应用方向

  • 观测动态响应

  • 真实环境状态下测量样品

  • 的用户体验带来全新的实验数据和视角

    直观地获取瞬时测量结果

  • 与您的样品实时互动

  • 友好直观地使用界面

  • 快速测量,省时省力

    降低您的维护成本

  • DHM独特的参照光路设置确保系统只需最低程度的校准维护

  • 无任何复杂扫描部件,运营成本低

    作为4D动态轮廓测量的独有优势

  • 多环境下测量,例如高压、真空、各种气体或可调节湿度环境等

  • 无须防震台、无激光干涉的噪点、无信号损失

    作为生物样品成像的独有优势

  • 长时间非侵入观察

  • 测量便利,无须细胞标记和其他准备

  • 量化相衬分析,提供全新的生物样本信息

  • 可选荧光模块

  • 数字自动聚焦

  • 创新研究祝您的研究成果在高水平科学期刊发表



系统配置


图像类型

全息图、光强图、量化相位图、可调三维视图

光源

单波长、双波长或三波长激光源(激光均为单色)

样品台

手动样品台或 XYZ轴自动样品台,最大可移动范围 300 mm x 300 mm x 38 mm

相机

标准155 fps (1024 x 1024) 或者特殊高速 1000 fps (1024 x 1024)

可选物镜

·           放大倍数从 1.25x 100x

·           可选配标准、高数值孔径NA、长工作距、水镜、油镜等

物镜安装

6口物镜旋转塔

电脑

最新多核工作站, Intel® 多核处理器,高性能显卡,最小21寸液晶显示器,鼠标,键盘

软件

基于C++ .NET的专用数据采集和分析软件Koala可选专用分析软件针对不同应用:MEMEs Analysis   ToolReflectomery   Analysis, Cell Analysis Tool (Available soon)

 

性能参数


图像抓取时间

标准: 60 μs (可选高速只需 10 μs)

图像抓取速率

标准: 155 fps (1024 x 1024). (可选最高 1000 fps). 由相机快门速率决定

数值重建速率

标准 25 fps (1024 x 1024),由电脑运算速率决定. (可选最高 100 fps)

精度
  (
定义为对单一像素点做30次测量后取时域标准差)

 小至 0.15 nm

垂直分辨率
  (
定义为两倍于精度)

 小至 0.30 nm

可重复性
  (as demonstrated by taking the one sigma Rq value of 30 repeatability   measurements on SiC reference mirror)

小至 0.01 nm

垂直校准

由干涉滤波决定, ±0.1 nm

动态可测垂直高度(无须扫描情况下)

对于连续结构最高可达 200 μm对于台阶最高可达 12 μm

垂直扫描下的可测垂直高度

由电动样品台决定,最高达 10 mm

水平分辨率

由所选物镜决定, 最高 300 nm

视场

由所选物镜决定, 最大 5 mm x 5 mm

工作距

由所选物镜决定, 0.3 mm 18 mm

数字自动聚焦范围

由所选物镜决定,  最大可达景深的 50

采样空间

 1024 x 1024 像素点

最低可测样品反射率
  (
仅对反射式 DHM )

 < 1%

样品照明

小至 1 μW/cm2

 

电源电压

输入电压

85-260 VAC – 50/60 Hz

功耗

最高 250 W

 

尺寸重量

尺寸 ( x x )

600 x 600 x 800 mm

重量

45 kg


 

 

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