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RTM-VA全角度光谱测量台
材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会发生变化。通过测量不同角度入射，研究材料的最敏感角度，为进一步研究或设计测量仪器提供依据。
RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件，可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量，适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计，高精度步进电机控制发射端和接收端的角度，角度分辨率0.05°。光谱范围220-2500nm（可选择不同配置），电脑软件选择发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。
入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架，可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架，可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。
应用领域：
§光子晶体器件 §传感器器件制备 §液晶显示
§纳米光学材料 §材料镀膜 §角度相关材料分析
§LED光源等
主要特点：
全角度测量：发射端角度范围0°至180°，接收端角度范围0°至360°，可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量。
精确角度控制：高精度电机，角度精度及重复性能优异。
多光谱测量模式：可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量。
可编程测量模式：可以通过编程，来实现自动多角度光谱测量。
自由测量模式：可以任意控制样品台的入射角、接收角，实现光谱测量。
可选配件多样：根据客户的不同测量应用，可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用。
多维调节样品台：样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成，可实现样品的五维正交调节。
光谱角度测量模式
反射测量（上反射/下反射）模式 透射测量模式
散射/荧光测量模式 辐射测量模式
参数指标 | |||
参数/型号 | RTM-VA | RTM-VAS | |
光谱范围 | 360-2500nm | 360-2500nm | |
光源 | 含钨灯光源 | 含钨灯光源和积分球 | |
光斑大小 | 最小3mm | 最小5mm | |
入射角范围 | 0-180° | 0-180° | |
接收角范围 | 0-360° | 0-180° | |
角度分辨率 | 0.05° | ||
测量对象 | 平面样品、发光样品 | 镜面样品、曲面样品 | |
应用 | 反射、透射、散射、荧光测量 | 反射率、透过率测量 | |
可选配件
紫外扩展模块 | |
RTM-UV | 250-2500nm |
光谱仪 | |
USB2000+ | 350-1000nm |
QEPRO | 350-1100nm |
NIRQUEST | 900-2500nm |
光源 | |
DH-2000 | 220-2500nm |
偏振片 | |
PLine-UV | |
PLine-VIS-A | 400-700nm |
PLine-VIS-B | 600-1100nm |
PLine-NIR-A | 1050-1700nm |
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