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德国 Dioptic GmbH公司的ARGOS 光纤端面缺陷测试系统， ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准，在暗场结构中使用了杂散光分析。测量原理是使用超高分辨率线扫描相机聚焦到光纤端面成像，直接测量光纤研墨后的缺陷（划痕，坑，崩边等）并得到缺陷的量化数据，测量速度快每次仅几秒钟时间，适用于研发和生产应用。
Dioptic GmbH公司成立于1999年，现有主要产品/服务有：光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS（光学元件缺陷检测、光纤端面缺陷检测）。
ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准，并在暗场结构中使用杂散光分析
精度 | 1 μm | standard deviation for 30 reinsertionsof the same sample |
可视度 | 1 μm | smallest visible defects overrated to size 2.5 μm due to optical resolution |
重复精度 | > 99% for 5/ 1x0.16 > 96% for 5/ 1x0.04 | assignment to same grade number |
smallest | 5/ 1x0.004 | holes |
discriminable | 5/ C1x0.01 | coating holes |
grade number | 5/ L1x0.004 5/ E0.04 | 划痕 崩边 |
750009Specification
Optoskand QBH, others on request | |
smallest defect grade | 5/1x0.004 |
maximum sample size | 22 mm diameter or 22 x 50 mm |
testing/handling time | 1 s / < 20 s |
image size | up to 146 mega pixel |
image resolution | 0.0028 mm / pixel |
1年
否
有
免费培训
保修期一年
保修期一年
4小时响应，8小时提供解决方案
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