仪器对比
关注
典型应用
各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：
分立和无源元件
– 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻
– 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等
简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器
集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC
– 射频集成电路（RFIC）
– 专用集成电路（ASIC）
– 片上系统（SOC）器件
光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器
圆片级可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、电迁移
太阳能电池
电池
更多…
一、 通用设置
1. NPLC 2. 接线方式（2、4线制） 3. 自动调零 4. 滤波
二、 单阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Single）
三、 单阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Single）
四、 多阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Steps）
五、 多阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Steps）
六、 分段电流扫描（SweepIMeasureV-Section）
七、 分段电压扫描（SweepVMeasureI-Section）
八、 连续电流扫描测量（SweepIMeasureV-Continuity）
九、 连续电压扫描测量（SweepVMeasureI-Continuity）
十、 双通道电流同步扫描（Dual-SweepIMeasureV）
十一、 双通道电压同步扫描（Dual-SweepVMeasureI）
十二、 波形输出-正弦波（Wave-Sine）
十三、 波形输出-方波（Wave-Square）
十四、 电化学-循环伏安（Cyclic voltammetry）测量
十五、 电化学-多电流跃阶测量（Multi-Current Steps）
十六、 电化学-多电位跃阶测量（Multi-Potenital Steps）
十七、 太阳能电池IV特性测量（Solar Cell IV）
十八、 双通道恒流恒压测量（Dual Channel IV）-
十九、 直流FET-转移曲线测量（DC-FET-Transfer）
二十、 直流FET-输出曲线测量（DC-FET-Output）
二十一、 脉冲FET-转移曲线测量（Pulse-FET-Transfer）
二十二、 脉冲FET-输出曲线测量（Pulse-FET-Output）
二十三、 直流FET栅极方波曲线测量（DC- FET- Gate- Square Wave）
二十四、 流FET漏极方波曲线测量（DC- FET- Drain- Square Wave）
1年
否
无
1次
质保期内，除人为因素损坏，全部免费维修，易损易耗品除外。
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24小时以内
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