DataRay 相机型光束质量分析仪 M2测量仪

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综合评分暂无

仪器对比

品牌

DATARAY

型号

WinCamD-LCM, WinCamD-IR-BB，WinCamD-QD，TaperCamD-L等

产地

美洲美国

应用领域

暂无

优选榜单

光学测量仪5月热度榜 · 第1名

杭州谱镭光电技术有限公司

营业执照已认证

金牌会员
第14年
一般经销商

核心参数

产地类别：进口

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产品详情

美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。

应用领域：

1、通信：光缆加工/熔接、研发

2、材料加工：焊接、蚀刻、切割

3、消费设备：光学鼠标

4、天文

5、激光制造与品控

6、光谱学

7、3D扫描

8、粒子检测

9、 LED：室内照明、车头灯

10、 LIDAR：AR、VR

11、生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪

一、相机型光束质量分析仪

基于相机的光束分析系统是使用非常广泛的，它无法获得最高分辨率，但是对于低重复频率脉冲激光、非高斯形状光束或者一般用途的光束分析应用，相机型光束分析仪是很好的选择。此外，Dataray光束质量分析仪通用的C/F-Mount接口设计，使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。

各种型号的相机通过选配转接头可以用于特定的波长范围，详见下表。


波长范围	WinCamD^TM-LCM	BladeCam2	TaperCamD-LCM	WinCamD-IR-BB	‍WinCamD-QD‍
190-1150nm	√	√	×	×	×
355-1150nm	√	√	√	×	×
355-1350nm	√	√	×	×	×
1480-1605nm	√	√	×	×	×
350-2000nm	×	×	×	×	√
2-16μm	×	×	×	√	×

规格表

型号	探测元件	总像素百万	像素尺寸 µm	*H V**	探测面积 mm	连续或脉冲
S-WCD-LCM-C	1” CMOS	4.2	5.5*5.5	2048*2048	11.3*11.3	CW/脉冲
S-BC2-HR	1/2” CMOS	1.3	5.2*5.2	1280*1024	6.6*5.3	CW
S-BC2-XHR	1/2” CMOS	3.1	3.2*3.2	2048*1536	6.5*4.9	CW
S-TCD-LCM	CMOS	4.2	12.5*12.5	2048*2048	25*25	CW/脉冲
S-WCD-IR-BB-7.5	氧化钒微测热辐射计	0.31	17*17	640*480	10.9*8.2	CW/脉冲≥1kHz
S-WCD-QD-1550	量子点探测器	2.07	15*15	最大1920*1080	最大28.8*16.2	CW/脉冲

配套软件（全功能且免费！！）

功能完善、操作简单
光束质量的1D/2D/3D分析
可测量光束质量指向稳定性、光束发散角
可以进行二次开发

图片6.png

①、新品：中红外光束质量分析仪 WinCamD-IR-BB

产品特点:

• 2到16μm氧化钒微测热辐射计

• 探测面：640 x 480或10.88 x 8.16 mm

• 17μm像素

• USB 3.0端口供电

• 14位数模转换

• 14 ms时间常数——测量脉冲（PRR≥1kHz）或连续波光

• 采样频率：7.5FPS

• 无斩波器和TEC冷却

• 可选配保偏光取样器和透镜组

应用领域 :

• MIR/FIR/CO₂ 激光轮廓分析

• 现场分析CO₂ 激光器和激光系统

• 光学组装和仪器对准

• 光束漂移记录

• 高分辨率红外成像

② 、新产品：TaperCamD-LCM：25mm x 25mm大靶面、355-1150nm

产品特点

l 355-1150nm，CMOS探测器

l 探测面：2048 x 2048或25 x 25 mm

l 12.5μm像素

l USB 3.0端口供电

l 12位数模转换，车载微处理器

l 25000:1电子自动快门，79us-2s

l 信噪比：2500:1

l 全局快门，光学/TTL触发器

l 隔离脉冲触发和并行捕获功能

应用领域

l 连续和脉冲激光轮廓分析

l 激光器和激光系统的现场维修

l 光学组装和仪器对准

l 光束漂移记录

③、新产品：WinCamD-QD：通信波段光束质量分析仪、400-1700nm / 350-2000nm

产品特点：

1. 量子点探测器，1550nm已优化

2. 波长范围400-1700nm / 350-2000nm

3. 多种探测面可选，标准为640x512（9.5x7.68 mm），可达1920x1080（28.8x16.2 mm）

4. 15μm像素

5. 14位数模转换

6. 全局快门，既可测连续光，也可测脉冲光

7. 信噪比：≥2100:1

8. GigE或USB3.0接口

应用领域：

1. 1550nm激光轮廓分析

2. 1550nm激光器和激光系统的现场维修

3. 光学组装和仪器对准

4. 光束漂移记录

5. M²测量

产品参数：

探测器	量子点探测器
型号	S-WCD-QD-1550 / S-WCD-QD-2000
波长范围	400-1700 nm / 350-2000 nm
分辨率	S-WCD-QD-1550/2000: 640x512 S-WCD-QD-1550/2000-L: 1280x1024 S-WCD-QD-1550/2000-XL: 1920x1080
有效探测面积	S-WCD-QD-1550/2000: 9.5x7.68 mm S-WCD-QD-1550/2000-L: 19.2x15.36 mm S-WCD-QD-1550/2000-XL: 28.8x16.2 mm
像元尺寸	15 x 15 µm
最小可测光斑	~150 µm
信噪比	≥2100:1 (33 dB optical / 66 dB electrical)
数模转换	14位
全幅帧速	S-WCD-QD-1550: 25 fps S-WCD-QD-1550-L: 25 fps S-WCD-QD-1550-XL: <25 fps
快门类型	全局快门
可测激光器类型	既可测连续光，也可测脉冲光

图片2.png

二、扫描狭缝光束轮廓分析仪

扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率，但是要求光束小于1μm且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZθΦ轮廓就可以满足应用要求。


型号	Beam’R2	BeamMap2
波长范围	Si: 190-1150nm InGaAs: 650-1800nm Si+ InGaAs: 190-1800nm Si+ InGaAs, extended： 190-2500nm
可测光斑大小	2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)
分辨率	0.1 μm or 0.05% of scan range
精度	± <2% ± ≤0.5μm
连续或脉冲	CW, Pulsed Minimum PRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)]kHz
M2测量	需要配上电动导轨	可直接测量，无需电动导轨
最大可测功率	1 W Total & 0.3 mW/μm2
增益	32dB

三、M²测量仪：

Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M²测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M²、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M²测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M²测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。