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迅速测定ppm级的有害金属！
应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。
Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求，畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
测定原理 X射线荧光分析法
测定方法 能量色散型
测定对象 固体、液体、粉状
测定范围 13Ai~92U
样品室尺寸 最大W370*D320*H155mm
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