Avio™ 200 系统能处理未经稀释的高基体样品,为ICP 带来新的性能及灵活性。 而硬件特性与直观易用的软件相结合,使多元素测量变得与单元素分析一样简单。 Avio 200 可通过以下性能,提供高效的操作、可靠的数据和低的拥有成本: l ICP 中低的氩气消耗 l 快的 ICP 启动(从关机状态启动,光谱仪在短短几分钟内即可准备就绪) l 对所有适用的元素都具有灵敏度与分辨率 l 具有双向观测技术的宽线性范围 双向观测功能 Avio 200 系统获得的双向观测功能。即使是波长大于 500 纳米或低于 200 纳米的元素也完全可以测量,即便是在 ppb 的含量水平。该 Avio 系统的双向观测设计也提供了可扩展的线性动态范围。 可简化您的开发方法,同时借助 Avio 200 系统的 PlasmaCam™技术,便利远程监控等离子体。 PlasmaShear 系统,可实现无氩干扰消除 为了消除轴向观测的干扰,需要消除等离子体的冷尾焰。 常规ICP消除尾焰需要消耗高达 4 升/分钟的氩气流量,Avio系统的 PlasmaShear™ 技术只需空气即可。无需高维护、高提取系统或锥体。就是一个集成的、自动化的、能提供轴向分析的干扰消除系统。 CCD 检测器,可实现重现性和精密度 借助全波长功能,Avio 200 系统的强大电荷耦合器件(CCD)检测器。 CCD 检测器可同时测量所选谱线及其谱线附近波长范围,实时扣背景,实现检测精密度。在分析过程中,它还可以同时执行背景校正测量,进一步提高准确度和灵敏度。 带有转换炬管底座的垂直等离子体,可实现基体灵活性 即使 ICP 正在运行,Avio 200 系统的垂直炬管无需工具也能进行简便快捷的调节,可提供更大的样品灵活性并简化维护。 |
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