报价 ¥50万 - 100万
1.采用美国原装电致冷高性能Si-PIN探测器,分辨率高,探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。
2.配置国际先进的DPP数字多道信号集成处理器,比普通模拟多道信号处理器性能更佳,尤其在高计数率时有更好的分辨率(如Hg和CI等),高达80MHz的数据传输速度使分析时间更短,测量重复性和长期稳定性更好。
3.内置高清摄像系统,清晰观察样品,准确定位样品测试区域。
4.配套最新的fp测量软件,集成多种谱图处理算法和基体校正算法,有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰,使低含量和痕量元素的检测结果更加准确,更加接近真值水平。
※ 同时满足ROHS、卤素、镀层、合金等材料分析 | ※ 沿用美国成熟的X荧光技术 |
※ 集成FP法、Alpha系数法、经验系数法 | ※ 可生成各种人性化的检测报告 |
※ 软硬结合的防辐射设计 | ※ 操作简便、一键式操作设计 |
※ 智能软件自动设定参数和滤光片 | ※ 快速无损分析样品 |
※ 多种语言的操作系统 | ※ 超温保护、超载保护 |
※ 无需耗材 |
1、探测器:美国Amptek Si-PIN探测器,高速脉冲高级分析系统;
2、高压电源:美国Spellman 50w(50kv/MA);
3、X射线管:50w侧窗铍窗型X射线管;
4、能量分辨率:149ev;
5、元素分析范围:硫(S)-铀(U);
6、测量时间:60-300S;
7、测量含量范围:1ppm-99.9%;
8、交流220v供电设备:1KVA交流净化稳压电源;
9、工作温度:10-30°C;
10、测量条件:大气环境;
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