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塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-3S
郑重承诺：全球甄选一流供货商，保证系统品质达到最高！
坚决不做低价、减配、低品质的经济版本和精简版等系统，维护国内用户的最大利益！
备注：CTA-3S系统颜色包括红色和蓝色，随机发货！
热电材料测试系统CTA-3S系统是在CTA-3系统的基础上升级性能更加强大的硬件（数据采集、变压器、功率调控模块、温度调节器和电磁场屏蔽处理、温度控制方式等优化），提高了温度场控制精度和测量数据的准确性和重复性。
技术特点：
· 可控温场下可同步测量赛贝克系数和电阻率
· 标准配置进口高级商用吉时利（Keithley ）数采仪表，避免电路板集成数据采集技术带来的干扰误差
Keithley技术：
100nV rms 噪音本底
直流电压灵敏度低至 10nV，基本精度为 0.002%（90天）
7ppm DCV 可重复性，基本 1 年 DCV 准确度：0.0028%
最大读取速度范围：2k 读数/秒；
温度分辨率：0.001℃；
交流电压分辨率：0.1μV
电阻分辨率：1 μΩ
电流分辨率：1nA
低功耗欧姆测量模式
弱电流电路测试功能
偏置补偿欧姆功能
检定低压元件又快又准确
提高测量精度的置信度
以低至 100μA 的源电流测量低阻抗，最大程度减少设备自发热
进行电阻测量时控制测试电压，避免击穿可能已形成的任何氧化物或膜
消除会在系统环境中进行低电平电阻测量时产生错误的热效应
提供更精确的低电阻测量
· 标配进口高级商用电流源（ADCMT），非电路板集成恒流源，避免无法精准输出小电流而产生热效应和测不准
· 恒流源参数：0.000-220mA；恒流设置分辨率：100nA；恒流稳定性：0.008+20nA/天
· 温度范围：RT up to 1150℃
· 光波炉加热技术，洁净加热不污染样品，对操作者安全健康；整体水路设计和镀金处理，无水垢堵塞问题，终身免维护
· 控温速率：0.01 –100K/min，可以节约用户测试时间
· 配置垂直放样结构，上下样品支架夹持（三明治），精确控制温度差
· 测量范围：赛贝克系数：0.5μV/K-25V/K；电阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm
· 0-80K温差范围可任意设置温差值及温差点的个数
· U-I曲线自动扫描，计算出合适的电流数值， 可以精确测量电导率；不会对大电阻样品产生误差
· 铂金大电极设计，和样品可充分接触，对于不均匀样品也可获得良好的导电测试
· 热电偶间距可以根据样品尺寸调节后固定，满足不同科研要求
· 精度：赛贝克系数：±7 %；电导系数：±10 %（热电材料测试，非康铜标样）；
· 重复性：3%
· 高级应用程序控温技术，包括温差和测量步进等高级要求
· 自由升/降温、可精确控制温度程序，进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
· 热电偶探针可选K、S、R型（无需铠装）配置，不会产生非常大的接触电阻
· 自动压力安全保护设计，进口美国航天级硬件配置，确保测试过程中不会发生爆炸
· 测量系统：柱状、片状、长方体、薄膜等系统
温度范围 | RT up to 1150°C | |
控温速率 | 0.01 – 100k/min | |
控温精度 | +/-0.25K | |
测量方法 | 赛贝克系数：静态直流电 | 电阻系数：四端法 |
测量范围 | 赛贝克系数：0.5μV/K-25V/K | 电阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm |
分辨率 | 赛贝克系数：10nV/K | 电阻率：10nOhmm |
精度 | 赛贝克系数： ± 7 % | 电导系数：± 10 % |
重复性 | 3% | |
电流 | 0 to 220 mA（可控精准≤0.005mA） 恒流设置分辨率：100nA 恒流稳定性：0.008+20nA/天 | |
数据采集 | 100nV rms 噪音本底 直流电压灵敏度低至 10nV，基本精度为 0.002%（90天） 7ppm DCV 可重复性，基本 1 年 DCV 准确度：0.0028% 最大读取速度范围：2k 读数/秒 温度分辨率：0.001℃； 交流电压分辨率：0.1μV 电阻分辨率：1 μΩ 电流分辨率：1nA | |
气氛 | He、氧化、还原、真空 | |
真空度 | 10E-3mbar | |
样品尺寸 | 直径或正方形：2 to 4 mm ；长度：6 to 22mm | |
应用：
2018年5月18日，世界知名期刊《Science》发表了北京航空航天大学赵立东教授等学者在热电材料硒化锡应用方面的重大研究成果：三维电子/二维声子实现高ZT。祝贺赵老师课题组和其它合作课题组！
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