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昆山嘉富亿日本日立HitachiX射线镀层厚度量测仪 Desktop XRF FT110A

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品牌

日立

型号

FT110A

产地

亚洲日本

应用领域

暂无
项目规格
产地日本
测定元素范围钛(22Ti)~铋(83Bi)
样品型态固体、液体皆可
X射线源管电压: 50 kV
管电流:1mA(40~1000μA自动调整最适电流输出)
X射线照射方向上方垂直照射型
检测器高强度正比例计数器
冷却方式电子冷却(不需液态氮)
准直器(分析区域)0.1、0.2 mmφ(自动切换)
样品观察高解析彩色CCD镜头
样品最大可分析范围【固定】535×530 mm
【电动】260 mm x 210 mm(移动量250 mm (X);200 mm (Y))
【样品最大高度】150 mm
仪器尺寸600 (W) × 815 (D) × 675 (H) mm
扫描分析功能■ 自动样品平台
■ 高解析彩色CCD镜头
■ 广域(狭域)观察系统
■ 雷射自动对焦系统
■ 扫描路径纪录系统
定性分析功能■ 元素分析
■ 能谱比对
定量分析功能■ 电镀膜厚测定
■ 薄膜分析检量线法(可针对单层、双层或是多元合金单层膜厚)
■ 薄膜分析FP法(最高一次分析五层)
标准配件■ FT系列专用桌上型Dell计算机(含液晶屏幕、鼠标、键盘)
■ 数据统计处理系统
■ 仪器硬件确认片一组(含强度、能量、分辨率及光径校正)
可加购选项■ 微小准直器0.05、0.025 × 4 mmφ
■ 操作游戏杆
■ 大型印刷电路板专用平台
■ 金属电镀膜厚标准品
■ 油压机与制锭机
设置需求■ 建议桌面尺寸:1500 (W) × 1000 (D) mm
■ 使用电源:AC100~240V(50~60Hz)/400VA


售后服务

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1

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