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BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪
l 12 bit A/D
l 同时高分辨率采样模式
l 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合
?l 实时显示光束2D/3D图像
l 测量光束的中心、椭圆度和功率
l Excel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输
l 可保存快照图像
l 自动验证分析报告
主要参数：
传感器类型 | Si/UV-Si/IR/IRE | |
光谱范围 | Si UV-Si IR IRE | 350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
刀片数 | 3（BA3头） 7（BA7头） | |
光束尺寸范围 | BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(椭圆形) BA7-Si和BA7-UV（圆形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5 | 3μm-5mm 15μm-10mm 15μm-9mm 3μm-3mm 15μm-3mm 3μm-5mm 15μm-5mm |
光束宽度分辨率 | >100μm <100μm | 1μm 0.1μm |
光束宽度精确度 | ±2% | |
功率范围 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | 10μW-1W(有衰减片) 10μW-5mW(无衰减片) |
功率精确度 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | ±5% ±10% |
功率分辨率 | 0.1μW | |
位置精确度 | ±15μm | |
位置分辨率 | 1μm | |
饱和度 | Si和UV-Si探头 | 0.1W/cm2(无衰减片)，20W/cm2(NG9) |
测量速率 | 5Hz | |
温度 | 0℃-35℃ | |
PC接口 | USB2.0 |
1年
否
有
1人/次
根据厂家保修条款
免费质保，易耗品不在保修范围。
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