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原子力显微镜
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AFM in SEM
原位原子力显微镜
100x100x100μm扫描范围
一、产品简介
LiteScope™是为不同品牌的扫描电子显微镜（SEM）设计的“即插即用”的扫描探针显微镜。根据客户需求，定制并提供适当的适配器和反馈机制，很容易通过四个螺丝将LiteScope™固定在电子显微镜的样品台上，通过线缆与控制器、电脑进行连接。 LiteScope™通过可更换探针进行多种扫描探针显微镜（SPM）成像模式。 综合分析包括：面形貌表征、机械性能、电性能、磁性能。
二、 功能
主要功能
LiteScope™提供并支持各种SPM测量方法和各种探针，其设计基础和最有价值的技术特征是通过不同的探针夹，使用不同的探针以达到测试要求。其主要测试功能：原子力显微镜（AFM）、静电力显微镜(EFM)、局部电压/电流测量、力调制模式（FMM）、开尔文探针力模式（KPFM）、磁力显微镜（MFM）、扫描隧道显微镜（STM）、纳米压痕。
技术特点
LiteScope™采用关联探针和电子显微镜技术（CPEM），该技术利用两种不同的技术对同一物体城乡的方法。CPEM能够同时对样品表面的同一个区域进行SEM和AFM表征。
LiteScope™通常用于高真空环境，但也可根据要求适用于超高真空环境。
工作温度：+15°C至+25°C
标准工作压力：10-5Pa~105Pa
外形尺寸：129 mm x 90 mm x 45-55 mm
最大扫描面积：22 mm x 11 mm x 8 mm
扫描范围：100 um x 100 um x 100 um
分辨率：0.2nm
技术能力
优势
独特的关联探针和电子显微镜技术（CPEM）
综合表面表征-形貌、粗糙度、磁性、导电性、电性能
在样品表面对针尖进行精确导航定位
5分钟内轻松集成和安装/拆卸
即插即用
与FIB、GIS、EDX等附件兼容
无需光学探测、无需激光调节的自感应探头
商用探针，多种测量模式
可根据客户要求定制探针适配于合适的探针夹
测量头可缩回LiteScope™的主体，以节省样品周围的空间。
倾斜操作（倾斜0°–60°），最小WD=5 mm
软件友好，无需特殊安装
远程访问结果和测量设置
三、应用
生物传感用石墨烯包裹金纳米粒子杂化结构的SEM/AFM表征
金纳米粒子与石墨烯掩膜的结合是一种新的制备适用于表面增强拉曼光谱（SER）的活性基底的方法。石墨烯可以作为针孔钝化层，防止等离子体纳米结构氧化。金粒子与石墨烯的接触程度对SERS的灵敏度有重要影响。因此，了解石墨烯膜对单个纳米颗粒或此类纳米颗粒簇的遮盖方式非常重要。可使用CPEM轻松确定纳米颗粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。虽然LiteScope™SPM（AFM）可以对纳米颗粒上的石墨烯层进行表面成像，但SEM可以对石墨烯层下的纳米颗粒进行成像。
含HFO2颗粒的W-Cr固溶体退火后的降解
在1000°C下退火10小时后W-10Cr-1HF（含HFO2颗粒的固溶W-Cr）的分解。孔隙形成于二氧化铪颗粒周围，同时也形成富铬部分（深色片晶或点）和富W部分（片晶之间的亮区）。利用CPEM可以快速、准确地识别扫描电镜图像中的形貌和材料对比度，很容易区分HF颗粒与孔隙。用CPEM技术研究了样品表面的腐蚀速率。
胶原支架上间充质干细胞的研究
采用冷冻干燥法制备胶原支架（Ceitec-but，RG 2.3）。然后，用间充质干细胞接种支架，在标准培养条件下培养6天（马萨里克大学组织胚胎学系）。最后，用四氧化锇和醋酸铀酰对支架进行染色，以获得更好的视觉效果。由于独特的LiteScope™及其通过扫描电镜精确的AFM尖端导航，在不损坏支架孔中探针的情况下，才有可能对制备的细胞进行测量。利用CPEM，可以同时用电子束和探针扫描同一个细胞并获得图像，以及细胞与基质的相互作用，这意味着细胞在支架后的扩展更大——更好的粘附力和更友好的环境。
其他应用
1年
否
无
I人技术服务
暂无
免费维修服务
24小时内响应
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