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Planum-3000平面光学元件光谱分析仪用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱，可进行多角度绝对反射率、相对反射率、透射率测量，偏振光测量，膜性测量，颜色测量等。
仪器特点：
自定义多角度透反射测量
测量对象：
棱镜 平行平板、平晶
滤光片 红外截止片
技术参数：
型号 | PLANUM-3000 |
|---|---|
探测器 | Hamamatsu背照式CCD阵列 |
检测范围 | 380-1100nm |
波长分辨率 | 1nm |
信噪比（全信号） | 1000：1 |
相对检测误差 | ＜0.2%（410-900nm） |
操作方式 | 自动 |
角度分辨率 | ＜0.0002° |
重复定位精度 | ＜0.005° |
旋转最大速度 | 25°/s |
透射测量角度 | 0-80°（小样品0-50°） |
反射测量角度 | 5-80° |
单次测量时间量 | ＜1s |
S/P光测量 | 支持 |
样品尺寸 | ＞Φ3mm |
操作系统/接口 | Windows7~Windows10/ USB2.0 |
电源/功率 | 220V-50HZ /100W |
其它 | 可自定义打印报表格式，开放式光学材料数据库 |
售后服务
根据产品
否
有
有
无
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