仪器简介:
无损伤地测量非磁性金属基体上非导电层的厚度;
两种测量方式:直接方式(DIRECT),成组方式(APPL);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、
最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV);
可采用两种方法对仪器进行校准; 可存贮495个数据;
具有删除功能,对测量的单个或所有数据删除;
具有打印功能;电源欠压指示功能;
操作过程中有蜂鸣声(单次测量方式下);
错误提示功能;手动和自动两种关机功能;
技术参数:
测头类型:N1;
测量范围:0~1250μm,铜上镀铬0-40μm;
低限分辨率:0.1μm;
示值误差:
一点校准 ±(3%H+1.5)μm;
二点校准 ±((1-3)%H+1.5)μm;
测试条件:
最小曲率半径3mm;
最小面积的直径 Ø5mm;
基体临界厚度0.3mm;
使用环境:
温度:0~40℃,
相对温度:20%~90%,
无强磁场环境;
电源:1/2镍氢电池5*1.2V 600mAh;
外型尺寸:270*86*47(mm);
重量:约530g;
产地:中国
主要特点:
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