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仪器简介：
技术参数：
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
光谱解析光致电流影像分析(Spectrally Resolved LBIC)
技术参数：
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
检测功能: 大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
适用样品: 单晶硅电池芯片、多晶硅太阳能芯片及薄膜太阳能芯片
样品大小: 5吋及6吋太阳能电池芯片或模块
解 析 度: 最高可达300*300um(需视选用规格而定)
电源供应: 依照样品规格选用, 有8V-20A、6.7V-30A及20V-50A可供挑选
光谱解析光致电流影像分析(Spectrally Resolved LBIC)
检测功能: 缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
适用样品: 单晶硅电池芯片、多晶硅太阳能芯片
激发波长: 650-980nm Laser diode
解 析 度: 10um
太阳能电池缺陷检测系统信息由实密国际贸易（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于太阳能电池缺陷检测系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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