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仪器简介：
是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。
技术参数：
可测量元素：原子序数22(Ti)～92(U)
X射线源：小型空气冷却型X射线管球 管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
滤波器：一次滤波器：Al-自动切换 二次滤波器：Co-自动切换
检测器：比例计数管
准直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圆形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm
安全性能：装有样品门联锁、防冲撞的功能
样品图像对焦方式：激光自动对焦
样品观察：CCD固定倍率、卤素灯照明 选购项：倍率切换（最大130倍）
修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作：配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能
主要特点：
1. 能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份
2. 搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
3. 拥有防冲功能
4. 搭载激光对焦系统
5. 即时生成测量报告的便捷性
运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。
6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件
7. 搭载了薄膜FP法软件
8. 自动对焦功能
配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。
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日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪信息由日立仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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