瑞士TESA MICRO-HITE测高仪
瑞士TESA测高仪拥有杰出的设计,专注测量平面、平行或圆柱表面的内部、外部、高度、深度、阶梯和距离等任何几何特征尺寸。
自动搜索孔或轴的顶点,在动态探测中记录较大、较小值以及较大较小值之间的差值计算。
TESA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差,并以ISO1101标准输出数据。-在电子测高仪上20年的制造经验造就了高品质的设计,代表了当今的技术水平的发展。
1年
是
有
10人次技术培训
保修期内 3月1次
非人为损坏,免费更换零件
48小时到达现场
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