这些台式仪器可在空气或低真空条件下测量从 Na 到 Bk 的元素。由于 X 射线具有穿透力和较大的光斑,Orbis 分析仪比扫描电子显微镜更适合分析较大特点的样品。EDAX 的 Vision 软件强大易用,可提供精确的元素分析。
Orbis 安装了垂直于样品的高级 X 射线光学元件和高品质摄像机,使仪器适用于更广泛的样品几何形状。这种创新设计实现了真正意义上的“所见即所分析”这一能力。可轻松检测到由于 X 射线束阻挡而导致的错误测量。如果相机视野受到阻挡,X 射线也会受到阻挡。测量形貌样品时,可消除 X 射线束的阴影。此外,在仪器设计的工作距离外更容易进行定性分析。
Orbis 适合各种应用,包括刑事取证、工业质量控制和无损检测,以及材料、电子和地质样品分析。
Orbis 微束 EDXRF 分析仪配有两个标准型号:Orbis MC 分析仪和 Orbis PC 分析仪。EDAX 为每个型号提供了一系列附加选项,这两个型号覆盖了各类需要高精度非破坏性元素分析的应用。Orbis Vision 软件对于两种型号均适用。
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