博曼P系列产品概述:
P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。
标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。
博曼P系列可满足以下类型用户的需求:
- 小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 期望在多个样品上实现自动测量
- 样品尺寸和应用经常变化
- 符合IPC-4552A
博曼P系列产品参数:
类别 | 参数 |
元素测量范围: X射线管: 探测器: 分析层数及元素数: 滤波器/准直器: 焦距: 数字脉冲器: 计算机: 相机: 电源: 重量: 马达控制/可编程XY平台: 延伸可编程XY平台: 样品仓尺寸: 外形尺寸: | 13号铝元素到92号铀元素 50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层, 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 4位置一次过滤器/4种规格准直器 可变焦 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz 32-50kg 平台尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5" 平台尺寸:25"x 25"| 行程:10"x 10" 高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:335mm(13") 高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24") |
关于美国博曼:
美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。
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