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湖南布鲁克 Dimension Icon 扫描探针显微系统代理

报价 面议

品牌

布鲁克

型号

布鲁克 Dimension Icon

产地

欧洲德国

应用领域

暂无
该产品已下架

仪器简介:

布鲁克 Dimension Icon 扫描探针显微系统的性能、功能及附件等方面具有全新表现,在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的最新款设备,它基于世界上应用最广泛的AFM平台,集合了数十年的技术创新、行业内领先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计,在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。


技术参数:

X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,最小85um

Z方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;最小9.5um

垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)

X-Y定位噪音(闭环):<0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)

X-Y定位噪音(闭环):<0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)

Z传感器噪音水平(闭环):<35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz)

整体线性误差(X-Y-Z):0.5%典型值

样品尺寸/夹具:210mm真空吸盘样品台,直径210mm, 厚度15mm

电动定位样品台(X-Y轴):180mm*180mm可视区域;单向2um重复性;双向3um重复性。

显微镜光学系统:五百万像素数字照相机

                180um至1465um可视范围

                数字缩放及自动对焦功能

控制器:NanoScope V型控制器

工作台:整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视借口

震动隔绝:整体式气动减震台

声音隔绝:可隔绝环境中85 dBC的持续噪音


主要特点:

结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术,Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级,X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中,这种表现是非常突出的,优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。

Icon不仅具有非常好的分辨率,它还具备许多新的特性,以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率:

• 专利设计的扫描管,实现闭环扫描功能同时,具有开环扫描管的噪音水平,在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率

• 全新设计的XYZ闭环扫描管,在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度,具有非常快的数据采集能力

• 最新的NanoScope软件版本,提供直观的操作流程及默认实验模块,将复杂的AFM操作流程转化为预先设置

• 高分辨率的照相机及X-Y定位,实现更迅速、更有效的样品定位

• 完全开放的针尖及样品环境,适用于绝大部分的标准或定制实验

• 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术,包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式


售后服务

1年

我司配套1-2位技术人员进行培训

根据客户要求

免费维修更换零件,提供相同或相近的备用机

4小时内响应,一个工作日内到达客户现场予以维修。

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