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CCD光谱响应测量系统 半导体光谱响应测量系统

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品牌

日本分光计器

型号

VC series-1

产地

亚洲日本

应用领域

暂无

CCD光谱响应测量系统,半导体光谱响应测量系统


    该系统可以测量光谱响应特性光电转换装置、光强控制机制和特殊的光学系统,使该系统能够在恒定的光强下,在样品表面连续照射均匀度高的单色光。


规格:

目标样品:CMOS传感器板/数码相机机身

波长范围:300 - 1300 nm

光源:氙灯/卤素灯

有效照射面积:10×10mm(可选40×40mm)

辐照强度:恒定能量10 - 50μW /cm2



售后服务

1年

免费培训

一年一次

一年保修

一周内上门维修

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