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适用于封装LED、光学透镜、镜头等近场光度测量，及需要近场分析的光源的测量，测试参数包括近场光分布和亮度分布，通过算法亦可得到光源的光线数据，并可以推算出光源的总光通量和空间任意位置的光强分布。系统输出的光线模型能与Tracepro等光学软件相配合，更方便，准确地进行照明产品的二次光学设计和研发。
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