仪器对比
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仪器简介：
1）系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜，成像清晰、像面平坦
2）配备反射式柯拉照明系统，为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明
3）正像三通观察筒，25°倾斜，极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性
4）配备了6”带离合器机械平台，行程158*158mm，可快速移动
5）最佳人机学设计，高刚性镜臂，“Y”型底座，调焦机构采用前置式操作控制，粗微调同轴
6）光源采用宽电压数字调光技术，具有光强设定与复位功能
7）可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件，拓展应用领域
技术参数：
光学系统: 无限远色差校正光学系统
物镜: 无限远平场消色差，长工作距金相物镜（明暗场两用），5X、10X、20X、50X、80X、
目镜: 高眼点平场目镜，PL10X，线视场φ22mm
高眼点平场目镜，PL15X，线视场φ16mm
观察筒: 正像，铰链式三目，25°倾斜，分光比：双目100%，三目100%
照明系统: 反射式柯拉照明，明暗场切换，带简易偏光接口，12V/100W卤素灯，预置中心
采用数字调光，具有光强设定与复位功能，带针孔光阑
调焦机构: 粗微调同轴，带粗调上限位、松紧调节装置和随机限位装置
粗调行程：33mm（焦后1mm），微调精度：0.001mm
最大样品高度：32mm
物镜转换器: 内定位、内倾式、五孔、明暗场两用物镜转换器
载物台: 6英寸矩形，机械移动平台200mmX200mm，移动行程：158mmX158mm
低位同轴调节，带离合器控制手柄，可快速移动
机架: 全新的人机工程学设计，高刚性镜臂，“Y”型底座，前置式操作控制
选购附件: 摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等
主要特点：
主要用于半导体硅晶片检测、LCD液晶屏检测、实验室材料分析及其他精密工程检测领域，可对样品进行明场、暗场及简易偏光观察。
1）系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜，成像清晰、像面平坦
2）配备反射式柯拉照明系统，为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明
3）正像三通观察筒，25°倾斜，极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性
4）配备了6”带离合器机械平台，行程158*158mm，可快速移动
5）最佳人机学设计，高刚性镜臂，“Y”型底座，调焦机构采用前置式操作控制，粗微调同轴
6）光源采用宽电压数字调光技术，具有光强设定与复位功能
7）可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件，拓展应用领域
技术参数：
光学系统: 无限远色差校正光学系统
物镜: 无限远平场消色差，长工作距金相物镜（明暗场两用），5X、10X、20X、50X、80X、
目镜: 高眼点平场目镜，PL10X，线视场φ22mm
高眼点平场目镜，PL15X，线视场φ16mm
观察筒: 正像，铰链式三目，25°倾斜，分光比：双目100%，三目100%
照明系统: 反射式柯拉照明，明暗场切换，带简易偏光接口，12V/100W卤素灯，预置中心
采用数字调光，具有光强设定与复位功能，带针孔光阑
调焦机构: 粗微调同轴，带粗调上限位、松紧调节装置和随机限位装置
粗调行程：33mm（焦后1mm），微调精度：0.001mm
最大样品高度：32mm
物镜转换器: 内定位、内倾式、五孔、明暗场两用物镜转换器
载物台: 6英寸矩形，机械移动平台200mmX200mm，移动行程：158mmX158mm
低位同轴调节，带离合器控制手柄，可快速移动
机架: 全新的人机工程学设计，高刚性镜臂，“Y”型底座，前置式操作控制
选购附件: 摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等
主要特点：
主要用于半导体硅晶片检测、LCD液晶屏检测、实验室材料分析及其他精密工程检测领域，可对样品进行明场、暗场及简易偏光观察。
MX-6R系列正置金相显微镜信息由上海舜宇恒平科学仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于MX-6R系列正置金相显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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