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产品介绍
E10 发射率测定仪是一种基于工业级反射计的稳定测量装置，可用来测量各种固体材料
的在不同情况下的发射率，无论是高温还是低温，固定或者移动，抑或不同的表面状况。
系统包括3 个主要部分：电子单元，光学传感探头和光纤信号线。电子单元包含电子元
件和微处理器控制单元，液晶显示屏，覆膜按键，电源和模拟/数字输出接口。光学传感
探头用来收集和传输反射光源，以测定目标材料的发射率。光学传感探头通过光纤信号
线连接到电子单元。由于光学传感探头内没有电子元件，它不受电磁噪音，辐射背景，
不良环境以及振动等的影响。
操作模式
E10 发射率测定仪可提供2 种简易的操作模式，分别是用于持续的在线生产控制的自动
模式和用于不同控制操作﹑安装和系统控制的离线模式。既可就近操作，也可通过通
信接口远程操作。
工作原理
随着红外测温仪在工业领域越来越广泛的运用，但这种技术固有的一些缺陷限制了其发
挥更大的作用。最突出的是基本原理的缺陷。红外测温计直接测量的是目标物体发出的
辐射。辐射是一个变量，根据普朗克定律，确定辐射和温度之间的关联时，需要知道第
二个变量，即目标物体表面的发射率。但发射率随材料表面条件，温度，波长和时间的
变化而变化。如果不同时测量发射率，测量的温度精度就受到限制。
E10 发射率测定仪解决了上述问题，它可以即时测量目标物体的发射率。如果和派罗米公
司相同波长的红外测温仪绑定，就可以精确校准测温结果。
E10 发射率测定仪采用专利的基于红外技术的激光器，测量狭窄波段的目标光谱反射率。
激光器产生的能量直接指向不透明的目标物体，随之可测量能量在目标物体内的漫反射。
通过测量能量的反射率就可以测量目标物体的发射率。E10 发射率测定仪还能消除高温物
体因发热产生的干扰。
技术参数：
有效波长 型号 对应波长
PF-E10-905 0.905μm ±0.015
PF-E10-950 0.950μm ±0.015
PF-E10-980 0.980μm ±0.015
PF-E10-1550 1.550μm ±0.015
带宽0.030μm
发射率测量范围0.01~1.00
发射率测量精度±0.01
发射率分辨率0.01
发射率测量重复性0.01
数据采集时间1 到2000 毫秒范围内选择
标准测量距离可在0.3 到3.0 米之间调焦，另可定制特殊传感探头
操作温度电子单元：0~40°C
传感探头：0~250°C
光纤数据线：0~125°C
信号输出模拟输出：0-20mA 4-20mA
数字：RS-232C 标准接口
电源230V/50Hz
主要特点：
特点：
1. 可测量由低温到高温的各种材料
2. 发射率测量范围0.01~1.00
3.有四种不同波长型号供选择
4. 数据采集速率从1 毫秒到2000 毫秒可选
5. 模拟/数字信号输出
可用于以下领域：
钢铁淬火炉
铜冶炉
高频感应加热炉
陶瓷或石墨窑
材料表面无损检测
工业上精确控温
工业/实验室材料测试
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