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Planum-3000 平面光学元件光谱分析仪
用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱，
可进行多角度绝对反射率、相对放射率、透射率测量，偏振光测量，膜性测量，颜色测量等。
仪器特点：
自定义多角度透反射测量
测量对象：
棱镜
平行平板、平晶
滤光片
红外截止片
售后服务
按客户要求
是
有
面议
面议
面议
48小时内达到现场
Planum-3000 平面光学元件光谱分析仪信息由爱博能(广州)科学技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于Planum-3000 平面光学元件光谱分析仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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