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AZtecWave结合了波谱仪解析X射线谱峰灵敏性、微量及痕量元素准确性以及能谱仪检测元素时的高速及高灵活性的优势。发挥波谱仪高X射线分辨率的特点，能够在更低的检测限下解析复杂的谱峰重叠。作为在高计数率下也可实现高准确定量分析的EDS探测器，Ultim Max与Wave结合，是一款出色的基于SEM下的元素显微分析系统。
具有罗兰圆几何和弯曲晶体的全聚焦波谱仪
出色的能量分辨率，可完全解析高密度的X射线谱线
较高的峰背比意味着检测限低于100ppm
电动入射狭缝可优化分辨率和峰背比
倾斜几何结构实现快速分析，可重复性高及样品定位更容易
推荐耗材
Zeiss蔡司扫描电镜SEM专用全套耗材包 AGG3939，双面碳导电胶带8mm×20m
MAC 能谱标样55种标样6mm×32mm SEM及能谱多功能标样8mm×32mm
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