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Mikron M315X-HT系列黑体校准源包括一个控制器模块和一个单独的发射器外壳，发射器源的可用孔径范围为4 x 4（高12 x 12英寸），温度范围为30至600°C。
Mikron M315X-HT黑体校准源满足红外焦平面阵列检测器，热成像仪，和FLIR系统在投影场景和现场应用测试在需要更高的温度的严格参数。M315X-HT黑体源通过精密加热元件电阻加热，以提供均匀的温度分布。两件式系统由控制器模块和用于发射源的单独外壳组成。发射器源温度控制由精密数字PID控制器执行，该控制器安装在7英寸（180毫米）高19英寸机架安装式机箱中。
产品特点
8至14 μm时的高有效发射率1.0
孔径范围（4 x 4英寸至12 x 12英寸）
高精度和高分辨率（0.1°C）
在静止空气环境中具有出色的稳定性± 0.2°C
技术参数
温度范围
环境温度30至600°C（86至1112°F）
温度不确定度
T <100°C时为±1°C，T = 600
°C时为±2°C（通过 辐射测量进行的精度校准），已经包括了发射率和传输标准的不确定性
温度分辨率
0.1°摄氏度
稳定性
在静止空气环境中
为±0.2°C，提供稳定的交流电源电压，并在出口或发射板上流过的空气最少
加热发射极形状
平板
出口直径
M315X4HT：101 x 101毫米（4 x 4英寸）
M315X6HT：152 x 152毫米（6 x 6英寸）
M315X8HT：203 x 203毫米（8 x 8英寸）
M315X12HT：305 x 305毫米（12 x 12英寸）
发射率
在8至14μm时?1.00的有效发射率
说明书中提供了光谱发射率图
标准校准方法
辐射度
1年
否
无
专业的技术工程师培训
无
保修期内所发生的一切费用均由供方承担（不合理使用导致仪器损坏的情况除外）
供方在接到需方故障申报后8小时内给予反馈，并提出解决问题和排除故障的方案。
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