天美（原精科/上平） CRY-1A/2A 差热分析仪(DTA)
报价 ¥5万 - 10万
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差热热分析仪（DTA）
差热分析（DIFFERENTIAL THERMAL ANALYSIS, DTA）是在程序控温下，测量物质与参比物之间温度差随温度或时间变化的一种技术。在程序控温下，不断加热或冷却降温，物质将按照它固有的运动规律而发生量变或质变，从而产生吸热或放热，根据吸热或放热便可判定物质内在性质的变化。如：晶型转变、熔化、升华、挥发、还原、分解、脱水或降解等。
天美作为国内享有盛誉从事DTA热分析仪制造的上海天平厂（上海精科）的承继者，在雄厚技术历史积淀的基础上，紧跟国际热分析研发动向，不断创新，运用新材料新技术，为国内各应用领域用户提供了多种档次及需求的高质量DTA仪器。目前天美提供市场的DTA仪器有CRY-1A及CRY-2A两种。
DTA用途：可以对升华、蒸发、热分解、脱水等在测量中质量发生变化的化学、物理变化进行测量。TG（热天平）对于样品的氧化、热分解、脱水等重量变化，耐热性的评价与反应速度的分析的测定十分有效。
仪器特点：
---炉子体积小、重量轻；炉子的热容量小，升降温速率快，炉温控制精度高；
---采样过程全智能化，能实时灵敏准确反应样品特性；
---配备数据采样、数据处理（可计算熔点、热焓、玻璃化温度、部分面积、氧化诱导期、动力学参数等）、数据输出功能的全方位专业智能软件包；
---用户可方便对仪器进行仪器常数校正，包括温度和热焓校正，减少仪器系统误差；
---CRY-1A选配气氛控制单元，可控制双路气氛流量，稳定切换气路；CRY-2A自带保护气氛单元，可提高长期高温工作状态下热电偶的抗老化能力，延长仪器使用寿命；
---提供操作方便的仪器校正软件及全套校正标样，便于用户自行校正仪器；
---可根据用户需要提供专业软件定制以及软件升级。
软件功能：
---多任务：可同时执行测量与数据分析
---可调的坐标范围
---数据导出
---存储与恢复分析状态
---仪器校正：温度校正，基线校正
---提供丰富实用的热分析专业计算功能，可实现：
• 焓值、外延起始点结束点温度、峰值温度的计算(Calibrating enthalpy,Texo,Tm)
• 氧化诱导期的计算(Calibrating Toi)
• 玻璃化温度计算(Calibrating Tg)
• 仪器系统常数计算(Calibrating K coefficient)
• 计算结果斜率点修正(Adjusting slope point)
• 基线拟合(Baseling fitting)及校正
• DTA转DSC
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