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Mg-U
1ppm-99.99%
小于140eV
0.1%
SDD探测器
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
M4 TORNADO采用了技术，为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。
· 采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率高。
· 涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。
· 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。
· 使用XFlash®探测器高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
· 基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。
· 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室
行业应用：
1.地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。）
2.司法鉴定、法医及痕量分析（弹孔射击残留物GSR分析等）
3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)
4.生命科学（植入材料扩散材料分析，生物体内的生物矿化，水凝胶质检，树木横断面/叶子/树根年轮）
5.材料科学（三元梯度薄膜分析，锂电池正极材料异物分析，水泥钢材腐蚀检验）
6.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)
7.质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）
1年
是
有
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