仪器对比
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仪器简介：
3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535
高速LCR仪，采样率可高至120MHz
100kHz～120MHz的宽频带
高速LCR测试（6ms/采样）
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
基本参数
测量参数
|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
前置放大器
决定的测量量程
前置放大器
9700-01
9700-02
9700-03
Z和R
100mΩ～1kΩ
500Ω～10kΩ
5kΩ～100kΩ
C
1.33pF～15.9μF
0.133pF～3.18nF
0.1pF～318pF
L
1nH～1.59mH
663nH～15.9mH
6.63μH～159mH
θ
-180.00°～180.00°
测量频率
量程
100kHz～120MHz
分辨率设置
4位（使用前控制板设置）
100.0kHz～1.000MHz
100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz
1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz
10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz
100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。
精度
最大 ± 0.005%，相对于设置值
测量电平
开路接口电压（V）
和恒压（CV）模式
5mV～1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV～500mV,最大10mA（10.01MHz以上）
分辨率
1mV幅度
精度
±（5%+5mV）×(2+log f)(f为MHz数)
恒流（CC）模式
200μA～20mA,最大1V（10.00MHz以下）
200μA～10mA,最大0.5V（10.01MHz以上）
分辨率
10A幅度
精度
±（10%+50μA）× (2+log f)(f为MHz数)
基本精度
Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°
输出阻抗
50Ω ± 10Ω（100kHz时）
监视
电压 0.000V～1.000V
电流 0.000mA～20.0mA
限制
电压（设置为CC） 0.005V～1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA～20.00mA
平均
关，2，4，8，16，32，64
触发
内置触发器，外置触发器
触发延时 0.01s～9.99s；0.01s分辨率
比较
可得到两组测量参数：百分比，△%，或绝对值设置（△%即显示测量值与标准值的偏差）
控制盘存储和调用
最多30组
屏幕显示
测量值和比较器的判断结果
显示线数
可设置成3，4，或5；根据参数可能有所不同
打印
拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
操作环境
10～40°C，最大80%rh，无凝结
仓储环境
-10～55°C，最大80%rh，无凝结
供电电源
交流100V～240V，50/60Hz，约50VA
体积及重量
约360宽×130高×360厚（mm）；8.3kg
技术参数：
3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535
主要特点：
3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535
3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535
高速LCR仪，采样率可高至120MHz
100kHz～120MHz的宽频带
高速LCR测试（6ms/采样）
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
基本参数
测量参数
|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
前置放大器
决定的测量量程
前置放大器
9700-01
9700-02
9700-03
Z和R
100mΩ～1kΩ
500Ω～10kΩ
5kΩ～100kΩ
C
1.33pF～15.9μF
0.133pF～3.18nF
0.1pF～318pF
L
1nH～1.59mH
663nH～15.9mH
6.63μH～159mH
θ
-180.00°～180.00°
测量频率
量程
100kHz～120MHz
分辨率设置
4位（使用前控制板设置）
100.0kHz～1.000MHz
100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz
1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz
10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz
100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。
精度
最大 ± 0.005%，相对于设置值
测量电平
开路接口电压（V）
和恒压（CV）模式
5mV～1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV～500mV,最大10mA（10.01MHz以上）
分辨率
1mV幅度
精度
±（5%+5mV）×(2+log f)(f为MHz数)
恒流（CC）模式
200μA～20mA,最大1V（10.00MHz以下）
200μA～10mA,最大0.5V（10.01MHz以上）
分辨率
10A幅度
精度
±（10%+50μA）× (2+log f)(f为MHz数)
基本精度
Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°
输出阻抗
50Ω ± 10Ω（100kHz时）
监视
电压 0.000V～1.000V
电流 0.000mA～20.0mA
限制
电压（设置为CC） 0.005V～1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA～20.00mA
平均
关，2，4，8，16，32，64
触发
内置触发器，外置触发器
触发延时 0.01s～9.99s；0.01s分辨率
比较
可得到两组测量参数：百分比，△%，或绝对值设置（△%即显示测量值与标准值的偏差）
控制盘存储和调用
最多30组
屏幕显示
测量值和比较器的判断结果
显示线数
可设置成3，4，或5；根据参数可能有所不同
打印
拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
操作环境
10～40°C，最大80%rh，无凝结
仓储环境
-10～55°C，最大80%rh，无凝结
供电电源
交流100V～240V，50/60Hz，约50VA
体积及重量
约360宽×130高×360厚（mm）；8.3kg
技术参数：
3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535
主要特点：
3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535
3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535信息由厦门欣锐仪器仪表有限公司为您提供，如您想了解更多关于3535LCR日本日置HIOKI|测试仪 3535报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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